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Gemeinsame Veranstaltung der Arbeitskreise "Smart Systems & Internet of Things" und "Ausbeute und Zuverlässigkeit"

Für diese erste Veranstaltung hat der Arbeitskreis "Ausbeute und Zuverlässigkeit" folgende Herausforderungen definiert:

1. Gatebewertung zu Yield auf Grund von Prozessdaten (welches sind die wichtigen Daten aus Metrologie, Defektdichte, Testchip,...)
2. Advanced Analyse Methoden : zur Detektion von Zusammenhänge und Anomalien bei komplexeren Zusammenhängen, z.B. selbstlernende Systeme, multivariate Parameter

Folgende Agenda ist geplant:

  • 16:00 - 16:20 | Vorstellrunde (Teilnehmer wie Arbeitskreise)
  • 16:20 - 16:35 | Vorstellung der 2 Themen
  • 16:35 - 17:00 | Pitches der möglichen Lösungen
  • 17:00 - 17:15 | Pause
  • 17:15 - 18:00 | 2 Untergruppen zu den Themen
  • 18:00 - 18:30 | Vorstellung der Ergebnisse
  • 18:30 - 18:45 | Wrap up

Ansprechpartner

Ines Thurner
CONVANIT
Telefon geschäftlich: 0157 849 99213
E-Mail: ines.thurner@convanit.com

Michael Meinel
CONVANIT GmbH & Co. KG
Telefon geschäftlich: +49 151 556 19899
E-Mail: michael.meinel@convanit.com
http://www.convanit.com

Dr. Martina Vogel
Fraunhofer ENAS
E-Mail: martina.vogel@enas.fraunhofer.de

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