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Elektro-Parametrische Tests an Halbleitern - von der Vorproduktion bis zur Fertigung

Eine reibungslose und schnelle Markteinführung von Halbleitern ist oft der Schlüssel zum Erfolg. Dies gilt besonders für die wachstumsstarken, hochmodernen Segmente wie 5G-Kommunikation, Stromversorgung, Speicher, Sensoren und Biotechnologie. Dabei ist es von großer Bedeutung, dass Elektro-Parametrische Messungen der Komponenten in der Entwicklung mit denen aus der Produktion eine hohe Konsistenz und Korrelation haben. Häufig sind Hochfrequenzmessungen, einschließlich Kapazitäts- und Pulsmessungen, die schwierigsten und anspruchsvollsten parametrischen Tests auf Wafer-Ebene.

DAS KÖNNEN SIE ERWARTEN?

1. Einführung und Vorstellung der Vortragenden
2. Herausforderungen beim Testen in den heutigen wachstumsstarken analogen Anwendungen
3. Erzeugung von mikrosekunden-gepulsten I-V-Sweeps und Tests
4. Messung niedriger Kapazität
5. Erzielung einer überlegenen Korrelation bei der Verlagerung von Tests vom Labor zur Fertigung
6. Zusammenfassung mit Fragen und Antworten

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