Aktuelle Veranstaltungen

Arbeitskreises Test, Analysis & Reliability und Arbeitskreis IC-Design

Analytik für Technologieentwicklung im Bereich Elektrotechnik und Elektronik

Wir treffen uns am 25. März um 18:00 Uhr bei der SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH mit den interessierten Kollegen des Designer-Stammtisches (IC Design) zu einem gemeinsamen Meeting. Für Interessierte bietet unser Host, das SGS INSTITUT FRESENIUS eine kleine Führung durch die Labore an, diese beginnt schon 17:00 Uhr.

Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion.

Agenda:

17:00 Uhr
// Führung durch die Labore | Gerald Dallmann (SGS Institut Fresenius GmbH)

18:05 Uhr // Begrüßung der Gäste | Prof. Michael Beck, Dr. Prischmann (TAR) und Andreas Brüning

 

 

 

 

18:15 Uhr // „Analytik für Technologieentwicklung und Schadensanalysen im Bereich der Elektrotechnik und Mikroelektronik” | Gerald Dallmann (SGS Institut Fresenius GmbH)

19:00 Uhr // Imbiss

19:30 Uhr // „EFx - electric imaging - Eine neue Inspektionsmethode zum Test elektronischer Baugruppen“ | Frank Grossmann (ATEip) 20:10 Uhr // "Fehleranalyse" | H. Gruber RoodMicrotec GmbH

20:50 Uhr
  // Bilateraler Austausch & Get together

21:00 Uhr // Ende

 

 

 

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Veranstaltungsort
SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH
1. OG rechts, Zimmer 201
Königsbrücker Landstraße 161
01109 Dresden

SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH

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Ansprechpartner

Prof. Dr. Michael Beck
Brandenburgische Technische Universität Cottbus - Senftenberg
Telefon geschäftlich: +49 (0) 3573 85-523
E-Mail: michael.beck@b-tu.de

Andreas Brüning
Fraunhofer IIS - Institutsteil Entwicklung Adaptiver Systeme
Telefon: +494640712
E-Mail: andreas.bruening@eas.iis.fraunhofer.de

Kay Eisenlöffel
Silicon Saxony e. V.
Telefon: 0351 89 25 888
E-Mail: kay.eisenloeffel@silicon-saxony.de

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