Aktuelle Veranstaltungen

Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability

Neue Aspekte der REM und FIB Analytik

Am 18. November 2019 um 18:00 Uhr trifft sich der Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability mit den interessierten Kollegen des IC-Designer-Stammtisches zu einem gemeinsamen Meeting.

Gastgeber für das Treffen ist die Firma Nanores, Treffpunkt ist jedoch bei Silicon Saxony im Manfred-von-Ardenne-Ring 20, Haus D, Raum 401.

Vorläufige Agenda:

  • 18:00 Uhr // Begrüßung der Gäste durch Prof. Michael Beck, Dr. Prischmann (TAR) und Dr. Achim Graupner
  • 18:10 Uhr // „Possibilities of SEM/ FIB Systems”  Thomas Liebmann (Nanores Germany)
  • 19:50 Uhr // „Elektronik in Hochschulen und Wirtschaft Indonesiens“ Prof. Dr. Bernhard Glück (Senior Experten Service - Bonn)
  • 19:30 Uhr // Imbiss
  • 20:00 Uhr // „Kampagne Mikroelektronik Sachsen“ Dr. Achim Graupner (Bosch Sensortec GmbH)
  • 20:30 Uhr  // Bilateraler Austausch & Get together
  • 21:00 Uhr // Ende

 

Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion.

Als Ansprechpartner für inhaltlich-fachliche Fragen steht Ihnen Michael Beck, Tel: +49 (0) 3573 85-523, E-Mail: michael.beck@b-tu.de gern zur Verfügung.

Ansprechpartner

Prof. Dr. rer. nat. Michael Beck
Brandenburgische Technische Universität Cottbus - Senftenberg
Telefon: +49 (0) 3573 85-523
E-Mail: michael.beck@b-tu.de

Kay Eisenlöffel
Silicon Saxony e. V.
Telefon: 0351 89 25 888
E-Mail: kay.eisenloeffel@silicon-saxony.de

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